蔡司ZEISS T-SCAN 手持式激光掃描儀

產品詳情 Product Information

         由于手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN CS的應用，使得快速、直觀和高度精確的3D掃描在坐標測量技術中進入全新的高度。全面革新且一體化的設計理念，包括匹配輔助裝置（跟蹤儀、手持式掃描儀和接觸式測頭），為種類繁多的應用提供了大的靈活性。高性能的軟件平臺colin3D能夠在整個測量過程中，始終如一地保持高效并始終堅持以項目為導向的操作過程。

面向用戶的、人性化的系統設計和易于操作的高效數據采集

         ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設計*符合人體工學原理。可根據操作者的需求量身定制，保證了掃描過程直觀、無疲勞感。由于配備了重量輕、結構緊湊的測頭，該系統非常適合于數據捕獲，即使難以到達的區域也不例外。

        優秀的技術特性，例如，針對各種對象的表面進行高動態范圍內的數據采集，而其所具有的迄今不可見的數據速率可以達到*的掃描速度并得到精確的測量結果。

手持式測頭進行快速點測量

        ZEISS T-POINT接觸測頭快速可靠地測量所選擇的測量點，使其成為在物體區域內進行單點測量的解決方案，如（修剪）邊緣和規則的幾何形狀。該裝置可與傳統的測頭一起使用，測頭更換更加簡單、快速。

動態參考

         即使在移動的物體上也能得到高精密的三維數據記錄，通過采用動態參考功能，在惡劣的環境條件下可以獨立執行測量工作，如振動（生產環境中，例如沖壓車間或

加工部件：對移動車門的密封進行測量）。

通用軟件接口

        從數據采集到數據處理，至數據比較 - ZEISS T-SCAN系統可以通過眾多直接的實時接口進行控制。因此，可以輕松集成到現有的工藝流程中。

用于不同的測量體積的光學跟蹤系統

        從小型到大型的物體 - 系統配置“CS+”和“LV”，為您的個人測量應用提供理想解決方案。

ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現的靈活性、ZEISS T-TRACK LV大范圍跟蹤儀

        ZEISS T-TRACK CS +光學跟蹤系統與所有其他系統組件進行優化匹配，因此開辟了廣泛的測量應用領域。

        *的數據處理速率使測量具有很高的速度，有利于減少物體掃描過程的時間。

通過采用創新型掃描和跟蹤相結合的*大范圍測量，您將在光學三維數字化中獲得全新的視角。

        現在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數據-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達35立方米的跟蹤范圍，為您進行有效的測量處理提供大可能的運動自由。

主要技術參數