殘余奧氏體分析儀能檢測鋼鐵材料中殘余應力也能檢測殘余奧氏體含量。當X射線照射鐵素體和奧氏體時會產生衍射，其衍射峰的強度與各相體積分數成正比，因此通過各衍射峰的強度對比可以分析計算出殘余奧氏體的百分含量。Xstress 殘余應力分析儀采用四峰法自動測量殘余奧氏體含量，精度優于1%。相比較于傳統的金相法等手段，四峰法具有無損、快速和精確等特性。

殘余奧氏體分析儀使用X射線衍射法來測量殘余應力和殘余奧氏體，適用于所有多晶體材料（包括陶瓷）。

產品特點：

具有自動校準功能，方便操作

自動對焦功能，可以根據物體距離自動調節

激光定位：保證了測量的準確性

設備重量輕，方便攜帶

測角儀有效的避免了探臂式結構的干擾現象

技術規格：

主控單元

可自由調整。超緊湊設計

包括

-電源

-電子部件和固件控制單元

-高壓發生器

-自循環液體冷卻系統，不需外部供水

-確保安全所需的所有互鎖裝置

殘余奧氏體測量

實驗室精度

不需切割試樣

測角儀

測角儀安裝在一個帶有磁座的三角架上。

-傾角：可編程-60°~ +60°(標準)

-搖擺：可編程0°~ ±6°

探測器

在?幾何系統的入射線兩側對稱安裝了高精密度的MOS線性成像探測器

角精度：0.014°-0.057°象素

軟件

操作系統：Windows。