1.設備類型：照相式三維光學掃描HOK-5M-400-100 

單面測量范圍：400×300 mm2  或 100×75 mm2可調

測量精度：0.015mm/0.005mm；

平均采樣點距：0.16mm/0.04mm

2.三維光學掃描系統

2.1三維光學掃描系統配置與功能要求

   （1）數據采集傳感器：，高速、高精密工業級相機 5,000,000像素

  *（2）光柵發生裝置：藍光高速數字型，非普通投影儀

   （3）便攜式三角架，云臺承重10KG

  *（4）計算機系統：支持windows 7，windows 10，64位操作系統，支持內存32G以上（配置要求：Intel I7及以上處理器、32G及以上內存、NVIDIA 1G及以上顯卡，推薦Quadro系列顯卡、100G以上硬盤）

  *（5）掃描速度：高速掃描、單幅測量時間<1.5秒

  *（6）光柵輸出：內置光柵、USB3.0接口控制、光柵無需雙顯卡設置輸出

   （7）拼接方式：系統整合“一鍵式”全自動標志點拼接模塊

   （8）全局誤差控制方式：系統整合GREC全局誤差控制模塊

  *（9）支持高速藍牙光筆或紅外遙控光筆（選配加價加裝）

  *（10）激光點對中，方便工作距離調節

  *（11）支持紅外遙控器操作掃描、拼接等功能（選配加價加裝）

  *（12）測量頭控制高度集成，設備只需一根高速USB3.0線傳輸數據

  *（13）采用窄帶藍光光源，抗干擾性強，可有效避免外部環境影響，適用范圍更廣

  *（14）環境震動檢測功能，有效保證數據的質量和穩定性

   （15）自動多曝光：在掃描過程自動調節曝光曝光參數及光柵機亮度，極大的提高了掃描反光物體的性能

   （16）支持與攝影測量系統配合使用

  *（17）支持一維自動化轉臺掃描，支持轉臺無標志點拼接（轉臺選配加價加裝）

（18）支持二維自動化轉臺掃描（轉臺選配加價加裝）

   （19）校準模塊：通過系統指示幫助操作者完成設備的調節設置，減少人為操作帶來的誤差影響

   （20）使用正交多頻相位外差條紋法，精度更高，抗噪聲能力更強

  *（21）支持多個工程合并，可使用手動或公共標志點對多個工程進行合并拼接。

  *（22）支持黑白紋理貼圖功能

  *（23）socket通訊控制功能，支持自主開發的軟件對掃描儀進行基本的控制（選配加價加裝）

   （24）可支持四目（選配加價加裝）

2.2三維光學掃描系統軟件功能要求

  * 自動拼接模塊

(1) 功能強大的中文掃描軟件中整合“一鍵式”標志點全自動拼接模塊，不需要使用外部軟件進行數據拼接

(2) 系統精度實時檢測功能，每次掃描拼接后自動報告拼接質量的好壞，并可實時查看對應的標志點精度

(3) 系統軟件整合GREC全局誤差控制模塊，可對拼接后的誤差進行全局控制

(4) 特征拼接，可利用物體的特征不貼標志點進行拼接

   點云處理模塊

(1) 掃描數據后，可進行點云噪聲處理及修剪

(2) 基于曲率的點云精簡功能

(3) 自動生成三角面

  * 三維檢測軟件模塊

(1) 特征擬合功能，如平面，圓，圓柱，球等

(2) 利用特征的坐標變換功能

(3) 平面度、圓柱度、球度誤差色譜圖分析

(4) 平面點云距離測量

(5) 點距測量

* 數據輸入輸出

(1) 導出結果為ASC，STL，OBJ等格式數據輸出接口廣泛,測量結果可與CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數據

其它

* 生產企業須通過雙軟企業認證，擁有發明，并通過認定。