蔡司X射線光學顯微鏡Versa憑著出色的大工作中間距高分辨率(RaaD)的特點，變成了出色科學研究工作人員和生物學家的“強有力助手”。在相對性大工作中間距下也可以維持高分辨率，有利于造成意義非凡的科學研究看法和發覺。伴隨著現如今技術性的迅速發展趨勢，對分析儀也明確提出了高些的規定，而蔡司Xradia600Versa系列產品便是專為解決這一挑戰而設計方案的。

蔡司X射線光學顯微鏡Xradia610&620Versa選用改善的燈源和光學技術

X射線電子計算機斷層掃描儀顯像行業遭遇的兩個挑戰是：完成大容量試品和大工作中間距下的高分辨率和高通量測序顯像。蔡司發布的2款X射線光學顯微鏡憑著下列優點解決了這種挑戰：系統軟件可出示大功率的X射線源，明顯提升 X射線擴散系數，進而加速了斷層掃描儀速率。工作效能提升 達二倍，并且不容易危害室內空間分辨率。另外，X射線燈源的可靠性獲得提高，使用期限也更長。

關鍵特點包含：

?zui高室內空間分辨率500nm，zui小體素40nm

?與蔡司Xradia500Versa系列產品對比，工作效能提升 二倍

?更為簡單實用，包含迅速激話源

?可以在很大的工作中間距下對更廣的試品種類和規格的試品開展亞微米特點的觀查

高些的分辨率和擴散系數

傳統式斷層掃描儀技術性取決于單一幾何圖形變大，而蔡司X射線光學顯微鏡XradiaVersa則將選用電子光學和幾何圖形二級變大，另外應用能夠完成更快亞微米級分辨率的高通量測序X射線源。大工作中間距下高分辨率顯像技術性(RaaD)可以對規格更高、相對密度高些的試品(包含零件和機器設備)開展高質量高分辨率三維顯像。除此之外，可選裝的平板電腦探測儀技術性(FPX)可以對大容積試品(重約25kg)開展迅速宏觀經濟掃描儀，為試品內部很感興趣地區的掃描儀出示了導航定位。

完成新的可玩性

應用業內優異的三維X射線顯像解決方法進行前沿的科學研究與工業科學研究：憑著zui大化運用消化吸收和相位差襯度，協助您鑒別更豐富的原材料信息內容及特點。應用透射襯度斷層掃描儀技術性(LabDCT)揭露三維分子結構信息內容。優秀的圖象收集技術性可完成對大試品或不規律樣子試品的高精密掃描儀。應用深度學習優化算法，協助您開展試品的后處理工藝和切分。

出色的2D/原點解決方法

蔡司Xradia600Versa系列產品可以在可控性自然環境下開展原材料三維高質量外部經濟構造定性分析的動態性全過程。憑著XradiaVersa在大工作中間距下仍可維持高分辨率顯像的特點，可將試品置放到試品艙底或高精密原點載入設備中開展高分辨率顯像。Versa可與蔡司其他光學顯微鏡無縫拼接集成化，處理多尺度顯像層面的挑戰。