詳細說明
SIOS激光干涉儀代理
SIOS激光干涉儀是根據邁克遜干涉測量原理制成的精密測量儀器,根據該原理,兩列具有固定相位差,而且有相同頻率、相同的振動方向或振動方向之間夾角很小的光相互交疊,將會產生干涉現象。該干涉現象會產生明暗相間的干涉條紋,由光電轉換元件接收并轉換為電信號,經處理后由計數器計數,從而實現對位移量的檢測。
其中包括六個部分:
1 長度測量系統:SP、SP-DIS、SP-DI、SP-LR、MI、MI-K、LM等
2 結合長度和角度測量干涉儀:SP-15000TR、SP-TR、SP-DS、SP-15000C等
3 穩頻激光:SL-02、SL-03、SL-04等
4 校準平臺和微納測量系統:NMM-1、EPP、PT等
5 振動測量系統:SP-S、NA、LSV等
6 環境測量系統:LCS等