二維輪廓度測量儀CLY-200B?應(yīng)用領(lǐng)域

二維輪廓度測量儀是光學(xué)元器件檢測*的設(shè)備。可測量光學(xué)元件的輪廓度與光學(xué)方程的誤差。可逆推光學(xué)方程，對未知表面具有逆推系數(shù)的分析能力。適合全線光學(xué)元器件的測量（包括陡峭、平坦或小矢高等光學(xué)元器件）。

CLY-200B使用環(huán)境要求

設(shè)備使用溫度:20±2℃。一天內(nèi)溫度梯度小于3℃。

濕度：＜65%。

空氣壓力：≥0.6MPa。

空氣過濾精度：0.01um。除油、除水。

空氣流量: ≥0.1m³/min。

CLY-200B主要配置

花崗石底座，滑動橫梁，滑動立柱，平移臺。

氣浮轉(zhuǎn)軸測頭（技術(shù)）。

測量臂可快速更換，測量力可微調(diào)。

CLY-200B技術(shù)參數(shù)

調(diào)整臺  
平移臺直徑200mm  
平移臺行程100mm

Y軸（滑動立柱）  
行程360mm  
運(yùn)動直線度5µm

X軸（滑動橫梁）  
行程200mm  
直線度2µm/200mm

氣浮測頭（測量臂長55mm）  
測量精度1µm  
測量矢高（zui大）10mm