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芯片卡三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試儀 詳細(xì)摘要： 芯片卡三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：南通市 更新時(shí)間：2019-09-21 參考價(jià)：¥ 3500 在線留言 -
芯片卡翹曲度測(cè)試儀 詳細(xì)摘要： 芯片卡翹曲度測(cè)試儀該夾具采用的是固定間距的重力滑落斜面設(shè)計(jì)，用于測(cè)量卡片彎曲度。精確的一個(gè)間距可以迅速的檢查出不帶凸碼卡片的彎曲度是否超過(guò)1.5mm。
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：南通市 更新時(shí)間：2019-05-08 參考價(jià)： 面議 在線留言