新型 MarSurf 系列 CD、GD 和 VD 是可提供速度和靈活性的精密產品。

操作周期改善 65 %，是其速度的有力證據。靈活性在于大測量范圍、工件靈活性（甚至高達 80 kg）和簡單的固定系統。它還支持可重復性，因此有高精度。

MarSurf VD 有一個的功能，就是使用一個系統即可完成高精度的輪廓和粗糙度測量。只需更換 粗糙度測量系統，即可完成高度準確的粗糙度測量。

一個平臺，很多優勢

MarSurf 系列的所有機器都在通用平臺上運行。

高速測軸和自動化測量序列可縮短測量時間

創新的固定系統，安裝和更換簡單快速

磁性底板，無需工具便可快速更換測桿

寬敞的支撐板和大測量范圍：測量大型工件的理想選擇

更換測針系統無需工具

優化的測針系統，一個測量站即可實現高精度的粗糙度和輪廓測量：

運行過程中更換，減少更換時間

可以使用輪廓測針系統測量粗糙度，同時有很高的測量范圍

數字接口，安全性高

更換測針系統，保證高準確度的粗糙度測量

測量快速且簡單

簡單的夾持系統能夠安全、快速且正確地定位工件。使用了高速測軸和新測針系統，測量本身的速度可提高 65%（示例為在銷上測量）。

整個流程可使用高速 CNC 測軸和 MarWin 自動完成。這有助于進一步降低工藝成本。

產品特性

新型 MarSurf 系列 CD、GD 和 VD 是可提供速度和靈活性的精密產品。

操作周期改善 65 %，是其速度的有力證據。靈活性在于大測量范圍、工件靈活性（甚至高達 80 kg）和簡單的固定系統。它還支持可重復性，因此有高精度。

MarSurf VD 有一個的功能，就是使用一個系統即可完成高精度的輪廓和粗糙度測量。只需更換 粗糙度測量系統，即可完成高度準確的粗糙度測量。

技術規格

MarSurf VD 140 | Art.-Nr. 6269020

分辨率 with roughness probe system:

Measuring range 1: 7.6 nm

Measuring range 2: 0.76 nm

with contour probe system:

max. 6 nm (with 210 mm probe arm)

測桿長度 with roughness probe system:

45 mm to 135 mm

with contour probe system:

210 mm to 490 mm

導塊偏差 0.07 μm / 20 mm（帶測頭系統 BFW 250）

0.35 μm / 60 mm

0.4 μm / 140 mm

測量速度  10 mm/s

掃描長度末尾（X 方向） 140 mm

定位速度 0.02 - 200 mm/s (X)

測頭 Roughness probe system (skidless)

Contour probe system

測量范圍 mm 帶測頭系統 BFW 250

500 μm (±250 μm)，用于 45 mm 測針長度

1500 μm (±750 μm)，用于 135 mm 測針長度

帶測頭系統 C 11

70 mm，測桿長 350 mm

100 mm，測桿長 490 mm

掃描長度 0.1 mm to 140 mm

測量力 (N) with roughness probe system:

0.7 mN

4 mN to 30 mN, adjustable via software