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詳細(xì)摘要： SR-SCOPE RMP30-S 該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法，十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR...

詳細(xì)摘要： FMP100/150 憑借 DUALSCOPE FMP100 和 FMP150，F(xiàn)ISCHEER可提供高性能手持式測量儀器，用于zhuan業(yè)涂鍍層厚度測量中各種...

詳細(xì)摘要： MP0/MP0R 系列 小巧、方便且穩(wěn)固 MP0 和 MP0R 系列儀器能夠簡便、快速且無損地測量涂層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它...

詳細(xì)摘要： CMS2 COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單...

詳細(xì)摘要： XUL / XULM 在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時，XUL 系列測量儀器是您的解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測量，能夠在測...

詳細(xì)摘要： XDV- XDV-型系列儀器是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可...

詳細(xì)摘要： GOLDSCOPE FISCHER通過GOLDSCOPE系列儀器，為無損的黃金和貴金屬測試提供定制化解決方案。這些耐用的X射線熒光儀器，其軟硬件均為珠寶黃金行業(yè)...

詳細(xì)摘要： BETASCOPE 在所有 FISCHER 測量儀器中，BETASCOPE 可提供zui多的涂鍍層組合。通過 射線方法，BETASCOPE 無需依賴于樣品的磁性...

詳細(xì)摘要： MMS PC2 模塊化測量系統(tǒng) FISCHERSCOPE MMS PC2，搭載 Windows CE 操作系統(tǒng)，是適用于高精度涂鍍層厚度測量與材料測試的理想解決...

詳細(xì)摘要： PHASCOPE PAINT 這款方便,筆狀的PHASCOPE PAINT是簡單快速地測量鐵基金屬和有色金屬上油漆涂層的理想方案。由于其測量范圍達(dá)到2500m,...

詳細(xì)摘要： XDV-SDD XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能zui強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm的探測器窗口確保...

詳細(xì)摘要： 手持式、臺式、在線： XAN 500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能zui多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺式機(jī)或是直接整合到...

詳細(xì)摘要： XDL / XDLM / XDAL 憑借電機(jī)驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL 系列測量儀器能夠進(jìn)行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及...

詳細(xì)摘要： FMP10/40 FMP10FMP40 系列手持式涂鍍層厚度測量設(shè)備可提供精確的測量結(jié)果，多種測量技術(shù)使其具有高度的靈活性。包括采用磁感應(yīng)測量 (DELTASC...

詳細(xì)摘要： PMP10/PMP10 Duplex PMP10 與 PMP10 DUPLEX 采用相位敏感測量技術(shù)，適用于測量粗糙底材上的涂鍍層厚度或鋼上的鍍鎳層厚度。 對于...