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詳細介紹
L3系統滿足了如今的研究科學家、設計工程師、品質經理或負責材料表徵、檢驗和確認的技術人員的要求。與涉及編程的傳統材料試驗系統不同，在試驗之前必須準確知道需要的測量手段，L3系統採用的是比較簡單的方法。首先創建您的試驗方法，然後利用試驗方法創建您的圖表，其次使用一組分析工具在圖表上進行測量。可以沿著圖形的任何位置測量任何點和任何分段，使用應力、張力、負荷、距離和時間進行分析，測量結果將顯示在圖表上，並顯示在有統計數據和公差的數據表中。
- 使用拉伸、壓縮、彎曲、循環、剪切和摩擦等應用程序測量應力、張力、負載、延伸率、擴展和時間結果。
- 使用國際認可的試驗標準ASTM、ISO、DIN、TAPPI等創建試驗設置或創建您自己的訂製試驗方法。
- 以圖表方式測量和計算結果：
- 點。
- 模量、斜率和截距。
- 條件屈服。
- 最小//平均值。
- 中斷(率，%降幅)。
- 峰值和谷值。
- △
- 比率。
- 遲滯。
- 功/能量。
- 數位和模擬I/O和控制邏輯選項。
| 型號 | MMD-10K | MMD-30K | MMD-50K | |
| 負載容量 | N | 10,000 | 30,000 | 50,000 |
| KGF | 1000 | 3000 | 5000 | |
| LBF | 2250 | 6750 | 11,250 | |
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