| 1.兩維光學測頭
中心光源時放大倍數的高度效應或表面傾斜效應
高度方向尺寸擴展,放大倍數發生變化,邊緣在平面上兩維坐標值會偏移,表面傾斜或光軸方向為彎曲形狀也會六生類似的效應,改進的辦法為不用點軸測光源而用平行光(改焦鏡頭系統),或作適當的補償.
照明方式(背景還是前景光)
影響探測誤差大小,例如背景光情況下,高的邊緣影響邊緣的位置測量,前置光對圓滑邊緣的位置測量會產生偏移.
被測物體的特性
被測表面情況,粗糙度、顏色等,
欲探測邊緣的質量,圓角等
測頭引起的誤差:
人為誤關,十字線用肉眼判斷帶不不可忽略的人為誤差,還可能十字線平面與被測物體平面不平行而帶不斷的視差.
點或環式測頭身身的標準不好而帶來誤差.
欲探測邊緣在平面內的半徑,若被測對象的曲率相對點測頭光點半徑不可忽略,則應對數據修正.
光電探測器的局部不均勻特征,造成二維的探測誤差
局部或隨時間變化的不良照明
帶圖像處理的測頭系統的放大倍數及畸變均應校準,影像坐標系統相對于零件坐標系統的扭曲,應有要求,因為它影響傳感器坐標系到零件坐標系的轉換.
2.三維光學測頭
三角形原理激光:表面明暗的突變,突跳的臺階,傾斜的表面或曲面以及直接反射光都會導致誤差.
視覺聚集傳感器,表成過于光滑,太亮,傾斜的表面或曲面. |
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