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HAST非飽和高溫加速壽命老化試驗(yàn)機(jī)，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:...
HAST高精度高壓加速老化測(cè)試機(jī)，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力...
工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱HAST，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓...
HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力...
高加速老化試驗(yàn)箱HAST，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條...
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HAST高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種...
偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)高加速老化試驗(yàn)箱，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品...
導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng)搭配 HAST試驗(yàn)箱，導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)可與zonglen HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您P...
zonglen桌面式快速溫變?cè)囼?yàn)機(jī)，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高...
HAST加速老化試驗(yàn)機(jī)HAST-400，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...
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B-HAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)高加速老化試驗(yàn)箱，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，...
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HAST 環(huán)境模擬老化壽命測(cè)試箱，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力...
高精度高壓加速老化測(cè)試機(jī)HAST，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力...
HAST芯片可靠性分析壽命失效性測(cè)試機(jī)，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...
HAST高加速老化RF射頻芯片HAST測(cè)試，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...
HAST測(cè)試系統(tǒng)高加速老化試驗(yàn)箱。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上，由于離子化金屬向相反電極移動(dòng)，在相對(duì)電極還原成原來(lái)的金屬并有析出的現(xiàn)象。此現(xiàn)象的發(fā)生是由于在...
HAST測(cè)試機(jī)高加速老化PCB老化試驗(yàn)箱，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕...
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