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詳細摘要： Waveline W10粗度儀非常適合用於進行移動式粗度測量，讓您可以在生產過程本身中監測工件的表面品質。這款實用的測量系統具有廣泛的功能。它在橫向探測期間以及...

詳細摘要： W900測量系統配有快速測量軸，即使遇到複雜的測量任務，也能保證快速的測量速度，因此能滿足客戶極高的要求。高精度的驅動箱與Nanoscan Ⅱ感測器組合，可用於...

詳細摘要： 緊湊型熱感式印表機使用藍牙(無需電纜)將測量結果當場記錄下來。因此，粗度儀即使在測量需要被記錄下來的情況下仍保持移動性。

詳細摘要： Waveline W5移動式測量儀的粗度測量可靠且高度精密，令人印象深刻。系統可以精確定位在零件上，而且不會滑動。重量很輕，採用緊湊設計，這意味可將其輕鬆用於移...

詳細摘要： Renishaw Equator夾具提供專門設計的底板及3點式動態系統，可迅速在機器上裝卸。底板*接合，可確保每個治具底板確實重複定位，以便於在數秒內快速地在E...

詳細摘要： RenAM 500S屬於Renishaw RenAM 500系列積層製造機的一部分，專門設計用於在生產環境建構金屬元件。RenAM 500S可輕鬆升級為四雷射系...

詳細摘要： Renishaw影像量測夾具及壓克力底板允許使用背光，可由您的影像量測系統及多感測器機器清楚明確地檢視零件。

詳細摘要： RenAM 500Q是Renishaw的多重雷射AM系統，其中配備四個高功率500 W雷射，每個雷射可同時進入整個粉床表面。RenAM 500Q大幅提升製造速率...

詳細摘要： Renishaw CMM夾具系列包括廣泛的標準尺寸底板選擇，並提供M4、M6或M8螺紋等選項。無論是檢測航太、汽車、電子、工業或醫療應用的零件，Renishaw...

詳細摘要： HS20長距離雷射光學尺，適合應用於較嚴苛之工業環境，最長距離可達60m，是許多長軸工具機理想的干涉儀應用解決方案。HS20雷射頭結合外部線性光學鏡組套件，構成...

詳細摘要： RLE系統為獨特先進零差雷射干涉儀系統，專為位置回饋應用所設計。各RLE系統由一個RLU雷射裝置及一個或兩個RLD10檢測頭組成，使用機型取決於特定應用的需求。

詳細摘要： OnAxis磁性感測器IC適用於超過360°非接觸式角度位置編碼。廣泛的產品組合可提供式和增量式輸出，其中包括SSI、平行、增量、正弦/餘弦和線性電壓，還有二進...

詳細摘要： RESR、RESM和RESA環型光學尺是一體式不銹鋼圓環，將精細柵線直接刻劃到柱面上。RESR和RESM環型光學尺採用增量式柵尺，RESM型號採用IN-TRAC...

詳細摘要： RESR、RESM和RESA環型光學尺是一體式不銹鋼圓環，將精細柵線直接刻劃到柱面上。RESR和RESM環型光學尺採用增量式柵尺，RESM型號採用IN-TRAC...

詳細摘要： RESOLUTE是真正式精細刻距光學編碼器系統，該系統能夠抵擋汙物，其規格令人印象深刻，為位置回饋領域帶來新的突破。RESOLUTE是一個式編碼器，在線性系統應...

詳細摘要： EVOLUTE系列根據Renishaw經業界認可的式技術而打造，是真正非接觸式線性光學編碼器，具有50um光學尺週期，可帶來的安裝公差和更優異的抗汙能力，非常適...

詳細摘要： 是一款結合超高精度和超小型的數位增量光學尺，透過優異的量測性能、高速度和高可靠性，提供直接數位位置回饋的光學尺系統。

詳細摘要： TONiC系列是Renishaw的超輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中，均可達到10 m/s的速度和低至1 nm的解析度。TO...

詳細摘要： TONiC UHV將Renishaw的超輕巧型非接觸式編碼器系統引進超高真空應用，為客戶帶來更佳的運動控制性能。TONiC UHV讀頭將標準TONiC的優異性能...

詳細摘要： Renishaw RGH41系列是一種非接觸式光學尺系統，可提供高度可靠的位置回饋。該讀頭具備雷尼紹成熟光學尺產品系列的全部優點，如可簡化安裝過程的LED安裝指...