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TP200觸發式感應器 詳細摘要: TP200測頭採用微型應變電感變頻器,即使在使用長測針的情況下,亦能提供優異的重現性及精確的3D 外形量測。感測器技術能提供次微米的重現性,並消除動態測頭所會遭...
產品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
SP600掃瞄測頭 詳細摘要: Renishaw的SP600類比掃描測頭系列產品,能為廣泛的CMM提供高效能檢測、數位化和輪廓掃描功能。共有三種多用途的SP600掃描測頭系統。每種系統皆包含其...
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TP20觸發式感應器 詳細摘要: TP20是一套輕型的5向或6向動態接觸觸發式測頭系統。兩件式設計包含測頭本體和可拆卸的測針模組,並使用高度重現性的磁性動態聯軸器相連。這能提供手動或自動更換測針...
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SP25M掃描測頭 詳細摘要: SP25M在單一外殼中含有兩個感測器。使用者可在五種選擇好的掃描模組(能攜帶長度從20mm至400mm的M3測針),以及與Renishaw的TP20測頭模組系列...
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PH20五軸點觸發量測系統 詳細摘要: 不像傳統的接觸觸發式量測方法須依賴CMM的3軸加速運動,才能加快量測的速度,PH20則是採用經多次獲獎的REVO系統所開發的測頭座運動技術,以大幅減少CMM在高...
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REVO®五軸量測系統 詳細摘要: REVO系統可在單一CMM上進行高效能掃描、非接觸式檢測和表面光潔度分析。REVO系統使用同步運動和5軸量測技術,在超高量測速度下,大幅減少CMM運動的動態影響...
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Equator™軟體 詳細摘要: 訂購Equator 300控制器可選擇預裝二種不同等級的軟體版本:MODUS Organiser–加工現場操作版本MODUS Organiser and MOD...
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Equator™ 500檢具系統 詳細摘要: 新型Renishaw Equator 500適用於大型工件的智慧製程控制,具備成熟穩定的 Equator 300檢具系統的所有優點。
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Equator™ 300檢具系統 詳細摘要: 新型Renishaw Equator是定制比對測量的多功能替代方案,可以對各種各樣的加工件進行檢測。通過與公司合作並在車間環境下進行測試,該產品的性能在多個行業...
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360度車床夾具附件 詳細摘要: 將車床加入循圓測試儀的測試程式中,擴充了QC20-W循圓測試儀 的多用途特性。使用此附件可快速且簡便地診斷車床上的特定誤差。
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QC20-W無線循圓測試儀 詳細摘要: 循圓測試儀測試提供簡單、快速的CNC工具機定位性能檢查,可滿足公認的國際標準(如ISO、ASME等),讓使用者能對其工具機進行基準測試並追蹤其性能,以快速診斷可...
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Ballbar 20循圓測試儀軟體 詳細摘要: Ballbar 20是建構在成熟的Ballbar 5軟體開發而成,適合用於QC10及QC20-W兩套循圓測試儀系統。
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50mm循圓量測治具 詳細摘要: 此附件套件可允許QC20-W循圓測試儀執行50mm半徑測試(標準套件最小半徑為100mm),能對大部分機器上的伺服控制系統進行進階測試分析。
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鏡組及量測功能 詳細摘要: 提供其他光學鏡套件,以進行表面平坦度和軸與軸之間的垂直度量測。相同的光學鏡組可與XL-80搭配使用,確保量測設定與程序的一致性。所有量測均為干涉量測,因此係使用...
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XR20-W旋轉臺校正系統 詳細摘要: 在許多機器上,旋轉軸的精度對於整體系統精度很重要。例如具有四到五個軸的機器的旋轉軸或三次元的旋轉軸。鑑於旋轉軸精度的重要性,最近各國和國際標準均制定了嚴格的旋轉...
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雷射干涉儀軟體 詳細摘要: CARTO軟體套件可在量測過程中(從設定測試到分析資料)為使用者導引工作流程。直覺式使用者介面與軟體操作流程符合XM-60多光束校正儀及XL-80雷射干涉儀的輕...
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XL-80雷射干涉儀 詳細摘要: XL-80雷射量測系統是用於工具機,三次元量測儀以及其他定位系統,全面評估的工具,該系統精度0.5ppm(百萬分之一),是目前其他系統不可比擬的,並符合國際標準...
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XK10雷射校準系統 詳細摘要: 可快速量測機床的幾何量誤差與旋轉軸心線誤差。配有專用機床夾具,相較於千分錶、自動準直儀和量測標準器等傳統測量工具,測量速度更快,操作更簡單。XK10雷射校準系統...
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XM-60多軸校正儀 詳細摘要: Renishaw XM-60是一款雷射測量系統,只需一次設定即可沿線性軸同時測量6個自由度的誤差。它具有強大的診斷工具,通過一次採集就可以測量軸的所有幾何誤差。...
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PC-DMIS測量及檢測軟體 詳細摘要: PC-DMIS作為的測量軟體,已經在安裝超過35,000套。該軟體是引進CAD應用的測量軟體,功能強大,操作快捷易上手,既有可以滿足初學者應用的單步提示型的“快...
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