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詳細摘要： Renishaw的RG2線性光學尺系統是專門為位置回饋應用而設計的非接觸式光學尺。該系統配用經讀頭掃描的通用反射帶狀光學尺；讀頭類型多樣，可提供具備行業標準的數...

詳細摘要： Renishaw RGH34系列是一種非接觸式光學尺系統，可提供高度可靠的位置回饋。該模組化微型光學尺系統包含一個可讀取刻劃柵尺的RGH34讀頭，以及一個可選擇...

詳細摘要： Renishaw RGH24系列是一種非接觸式光學尺系統。緊湊型讀頭配有LED安裝指示燈，抗汙能力優異的獨特光學濾波系統，以及解析度達10nm的內置細分電路。R...

詳細摘要： Renishaw RGH22系列是一種非接觸式光學尺系統，可提供高度可靠的位置回饋。RGH22讀頭配有可簡化安裝過程的LED安裝指示燈、抗汙能力優異的獨特光學濾...

詳細摘要： 一款將Renishaw健全的過濾光學和訊號處理技術結合，打造出的穩定且容易使用的增量式光學尺系統。

詳細摘要： 測針可用於Renishaw的三次元量床、工具機、掃描測頭、Equator檢具系統及其他製造商的感測器系統，以確保量測精準度。測針是什麼？測針是量測系統的一部分，...

詳細摘要： ATOM是款擁有光學濾波系統的超小型光學編碼器，具有優異的抗汙能力、信號穩定性和可靠性，包括線性光學尺和環型光學尺兩種。

詳細摘要： SP600測針模組的交換架。探針更換約10秒，無需重新檢定探針就能重新使用。

詳細摘要： SCR200能在最多六組的TP200測針模組之間，提供自動化、高速的更換，並由個別測頭介面PI 200-3供電，以提供許多能促進安全測針更換的功能。SCR200...

詳細摘要： 可自動更換TP20測針模組的模組交換架。MCR20模組交換架屬於被動式交換架，最多可存放六個TP20測頭模組，以便由量測程式控制進行自動交換。

詳細摘要： 具有偏置測頭固定座的PH1可調定位測頭座。

詳細摘要： 具有內建LCD位置顯示器的MIH手動轉向測頭座。

詳細摘要： MH8是一種手動轉向測頭座，採用M8螺紋測頭連接方式，專為在小型手動CMM上使用而設計。

詳細摘要： 手動可轉向測頭座結合TP20動態測針模組固定座及兩軸轉向功能，能靈活更換測針及重複定位測頭。

詳細摘要： PH10MQ PLUS是PH10M PLUS的另一種版本，能使用軸套本身內的測頭座B軸，將電動測頭座直接連接軸套。本配件能提供更整齊及更短的測頭固定方式，只有A...

詳細摘要： PH10M PLUS可攜帶長延長桿及複雜的測頭，如SP25M或TP7M。高重現性的自動聯接能快速更換測頭或延長桿，而不需要重新檢定。

詳細摘要： PH10T PLUS與 PH10M PLUS類似，但其在自動聯接頭的位置，提供一個M8螺紋測頭固定座。所有M8螺紋測頭，如TP20和TP200以及延長桿都可直接...

詳細摘要： TP7M測頭是採用應變電感技術的電子測頭，能提供更高的精度、消除葉瓣效應及歸位錯誤，並提供比動態接觸觸發式測頭更長的使用壽命。TP7M具備多線自動聯接連接，與P...

詳細摘要： RTP20提供低成本的「電動」測頭座功能，及內建TP20接觸觸發式測頭，能提供更佳的生產力、增加觸及範圍及靈活性。RTP20的自動化轉向能同時使用A軸和B軸，以...

詳細摘要： TP6和TP6A測頭有不同的測頭固定座選項(分別為M8螺紋和自動聯接)。兩種測頭皆為動態接觸觸發式測頭，並具有手動可調節的觸發力，以便搭配不同的測針配置提供的測...